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[综合]请教一个清空测试Flash的问题 [复制链接]

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离线gaoxin627
 
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只看楼主 倒序阅读 我要置顶 楼主  发表于: 2017-10-24
手上有几片Flash,想要清空并测试Flash的坏块情况,用的安国的au6889-gtc,
如果选“全新+AA55” 0ECC,好几片都是会提示坏块过多无法量产
选择“全新+AA55” 4ECC,都能量产成功,大概10多坏块,但是用urwtest测试会有很多错误。
然后我觉得应该是Flash坏块过多了
但是后来顺手选了一次“全新”来量产,非常顺利的成功了,大概也是10多坏块,然后用urwtest测试完全没问题。
求问下这个是啥原因啊,为什么AA55过不了但是全新反而能过,而且能过urwtest测试呢?
离线bulishou

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只看该作者 1楼 发表于: 2017-10-26
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