在慧荣方案中通常要通过RDT开卡将增量坏块屏蔽补漏，否则用不了多久在原有的地方会再次出现“漏点”造成数据不完整，当然这次利用慧荣的RDT概念去科普一下JMF方案中的补漏方法！并查验，实验对象是一个磨损了6000PE的爱漏盘——
ADATA,SATA3-64G,主控为JMF661（此实验器材可以出售）。此贴由我的开卡神器赞助，居家开卡之必备良品，大家踊跃购买
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上图的初始坏块数是88跟44，实验盘放置2周后，不稳定的老化块会漏电“蒸发”电子，我们运行老化软件发现不能通过测试
同时再去检查坏块计数有所增加
总的出现了4个坏块，系统的ECC效验能力只能纠出2个坏块，显示最后2处ECC faied的就说明超过的主控的处理能力，丢没丢数据呢？答案是肯定的
如果数据在图中的位置，肯定缺失不完整，当然后人看了此图会嚷到用“安全擦除”，实话告诉你安全擦除有个毛用，无非是在陷阱上面盖张席子，没有把基本问题解决，丢数据就无时无刻不在。
图中一片黄是颗粒慢扫的衰老分布，新盘是全绿，中度老化是半绿半黄。全黄让你会觉得不愧是磨损了6000PE的盘，快寿终正寝是啥样。
此贴重点——堆栈法开卡，也就是通过多次开卡把漏电块过滤，开卡软件大部分test都是一下就过
（每款开卡软件过程不会超过10分钟），除了完全坏的死点能分辨出，快速漏电块是没法以开卡时候就可以排查出来！所以必须接续一个连续的表来登记不良的块，为了要达到堆栈的效果，就要重复开卡
不删除分区
（可能有人说不删除分区开卡会报错，报错就报错），直接以factory+newBB，直到下图R/W测试报错。
然后拔出盘，我研究N次，
（正常的开卡方式是要删除分区再开卡）如果按正常开卡方式，删掉分区的时候坏块映射关系消失，反而让它溜掉了！！！更惨的是之前堆栈记录了多次的表被初始化了，无法接续，此盘最高被我堆栈开卡记录最高300多块稳定运行了一年，后面手欠开卡实验清空了，又走慢慢堆栈之路。
如图堆栈开卡以后
（由第一幅图演化来的，可以对比一下数据），出厂坏块又88增加为96，初始坏块由44增加到48。由此完成了SSD一个RDT循环，下图是验证一下老化，通过。
再补一下课：就是为啥颗粒每个块的寿命不一样？我是看到有关的文章这么说的，存储半导体的生产是一个物理过程，晶体管的好坏在每个单位在结晶的时候就是不一样的，在同一个面上都有个体差异，有的能用1000多PE有个能用上万PE。你也可以理解为泥活字印刷，一片文章排版有很多字块，有的字块寿命有长有的短，所以印刷过程中还要剔除坏字块换掉，通过ECC效验也就是说通过印刷的差异排查坏字，那么开卡就相当于重新排版剔除坏字。
最后感觉此文一出JMF旧板SSD又要抢手了，祝双11快乐！
[ 此帖被hahaboy_007在2018-11-12 22:21重新编辑 ]
