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[工仪]打磨芯片现真身!台湾固纬GW GUT6000 IC测试仪拆解 [复制链接]

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离线dr.crazycat
 
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只看楼主 倒序阅读 我要置顶 楼主  发表于: 2012-01-09
— 本帖被 發騷友 设置为精华(2012-01-09) —
自从注册了之后一直没时间发帖子,最近拆了点东西
今天拆一个GUT6000 IC测试仪
可以测试CMOS系列,54/74 55/75系列的芯片,对于这些系列的,已经打磨的芯片也可以找到型号

GUT-6000  IC 测试器
台湾固纬生产  
  
特性:  
Loop 测试  
自动搜寻 IC 编号功能  
过载保护功能  
可量测之 IC 种类超过 1800 种  
54/74、55/75 系列 TTL 及高速 CMOS  
4000 及 4500 系列 CMOS  
最大可测 Pin 数 : 28 Pin  
规格  
测试范围 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS  
4000 及 4500 系列 CMOS  
55 及 75 系列 TTL  
  
量测种类 约 1800 种  
测试电压 5V DC  
  
测试时间 高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC  
使用电源 交流 110V/220V +10%, 50/60Hz  
  
尺寸及重量 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤











键盘



IC座



后面






底部



开始拆
底部4个螺丝拧开,打开上盖





移除排线
显示部分排线


键盘部分排线


特别的连接方式,连接上层主板与IC座


对应插座


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