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[慧荣]tlc芯片寿命测试 [复制链接]

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离线alley
 

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只看楼主 倒序阅读 我要置顶 楼主  发表于: 2013-05-07
X宝弄了一片tc58nvg5t2hta00 25nm tlc flash芯片做寿命测试,主控用sm3257en 用单大文件顺序填充,现在已写入2,400,075,339,096BT文件,写入速度真揪心,约600次的写入;今天拿下来看下坏块竟然依然0个,即使全新芯片tlc出厂也不太可能0坏块呀,不解,前来请教。寿命测试继续中。

××××是完整填充然后再校验,校验合格后删除再填充与上次不一样的文件,十分耗时!!至于坏块一直为0暂时也不知道为什么,继续填充!×××××
[ 此帖被alley在2013-05-07 21:29重新编辑 ]
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