2009/06/18
1. 修正了HYNIX部分型号FLASH的时序
2. 新增34nm FLASH扫描选项，对于状况较差的34nm FLASH请选择这个扫描方式
3. 增强了半容量扫描功能
4. 新增X3 FLASH的支持
5. 完善了出错提示信息
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2009/06/12
1. 修正了与某些读写测试工具的兼容性
2. 优化K9G8G08U0A读写时序
3. 增加Micron和Hynix部分新型号FLASH的支持
4. 修正了部分FLASH参数设置不当的问题
5. 提高了部分FLASH的写入速度
6. 界面的显示增加强制选择FLASH时的提示
7. 更新量产设置说明
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2009/05/20
1. 增加“多次扫描”检测方式，针对质量较差的Micron 34nm黑片可采用这种方式扫描和量产
2. 增加“X+Y扫描”检测方式，完善某些Downgrade FLASH支持
2. 优化读写时序， 并增加“自动检测”选项
3. USB端口设置增加为两种方式
4. 修正了某些情况下量产过的设备没能正确识别的问题
5. 调整FLASH参数，增加了默认设置下量产后的容量
6. 修正对TC58NVG2D4B和TH58NVG5D2ETA20两种型号FLASH的支持
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2009/04/30 测试版
1. 增加以颜色区分是否量产过的功能
2. 量产时允许拔插设备
3. 加入二次扫描选项
4. 修正某些情况下工具出错崩溃的问题
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2009/04/24
1. First Release
