是关于 Pretest选项的疑问
曾经在论坛的看到一篇问SMI 2246EN 软件 pretest选项针对不同颗粒的选择的帖子。
有位大神给出的答案如下
Pretest的选项 0 <- 新的并且没使用过的颗粒选这个
选项 1 <- Erase all, 把原厂标记坏快也清除掉
选项 2 <- Erase good blcok,曾经有使用过的变成坏块的会记录
下来不会被清除
选项 3 <- 这个是强力清除，用于使用过资料很乱的F
但是不是很详细，在实际测试颗粒过程中还是不知道如何运用，比如一些颗粒选择0选项会显示too much bad，开卡不过，但是其他选项又能正常开。
之前问过一个SMI公司的人，他只是告诉我测试颗粒是否能正常开卡的时候选1选项，颗粒上测试架过RDT开卡的时候选用0选项。是针对原厂的芯片。
但是针对于一些设备的拆机芯片该如何选择选项来测试颗粒呢？
还有这几个选项到底是指的什么意思，有没有大神来科普下子、不胜感激。
