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[SMI]SMI 2246EN 颗粒测试设置的疑问 [复制链接]

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离线xsl53779
 

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最佳答案:20 M币,最佳答案获得者:zhuyimin
是关于 Pretest选项的疑问


曾经在论坛的看到一篇问SMI 2246EN 软件 pretest选项针对不同颗粒的选择的帖子。
有位大神给出的答案如下
Pretest的选项 0 <- 新的并且没使用过的颗粒选这个
                          选项 1 <- Erase all, 把原厂标记坏快也清除掉
                          选项 2 <- Erase good blcok,曾经有使用过的变成坏块的会记录
                                        下来不会被清除
                          选项 3 <- 这个是强力清除,用于使用过资料很乱的F
但是不是很详细,在实际测试颗粒过程中还是不知道如何运用,比如一些颗粒选择0选项会显示too much bad,开卡不过,但是其他选项又能正常开。
之前问过一个SMI公司的人,他只是告诉我测试颗粒是否能正常开卡的时候选1选项,颗粒上测试架过RDT开卡的时候选用0选项。是针对原厂的芯片。
但是针对于一些设备的拆机芯片该如何选择选项来测试颗粒呢?
还有这几个选项到底是指的什么意思,有没有大神来科普下子、不胜感激。
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在线zhuyimin

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只看该作者 1楼 发表于: 01-11
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reference 和don't reference,代表是否参考闪存芯片内记录的坏块数据。就算是新片,里面也有原厂坏块记录。新片开卡用0,硬盘重新开卡用2。1和3不建议使用,容易造成SSD丢数据。有问题硬盘重新开卡用1还是会出现之前的问题。U盘也有这一类选项,设置差不多。
离线songyouy
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进来学习一下,涨涨知识
离线allanbee

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只看该作者 3楼 发表于: 01-14
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参考初始/原始坏块(错误)
不参考初始/原始坏块(错误)
参考运行/测试过程的坏块(错误)
不参考且跳过初始/原始坏块(错误)
离线cults

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一般选1或者2 ,0呢?原片很少吧!!
离线xsl53779

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只看该作者 5楼 发表于: 01-11
回 zhuyimin 的帖子
zhuyimin:reference 和don't reference,代表是否参考闪存芯片内记录的坏块数据。就算是新片,里面也有原厂坏块记录。新片开卡用0,硬盘重新开卡用2。1和3不建议使用,容易造成SSD丢数据。有问题硬盘重新开卡用1还是会出现之前的问题。U盘也有这一类选项,设置差不多。 (2018-01-11 17:31) 回 zhuyimin 的帖子

你好,按照怎么设置来确定哪些颗粒可以用来做SSD的颗粒,那个结果更严苛?很多颗粒是原装USB拆机的颗粒,或者是原SSD的拆机颗粒